基于Xornet的低功耗控制器是一种流行的技术,可以减少基于扫描的测试中的电路过渡。然而,现有解决方案构造Xordet均匀用于扫描链控制,并且可能导致次优溶液而没有任何设计指导。在本文中,我们提出了一种具有进化学习的新型可测试性感知的低功率控制器。从所提出的遗传算法(GA)产生的XorNET可以根据其使用,使扫描链的自适应控制能够显着提高XorNET编码容量,从而减少了ATPG的故障情况的数量和降低测试数据量。实验结果表明,在相同的控制比特下,我们的GA引导的Xornet设计可以将故障覆盖率提高至2.11%。所提出的GA引导的XorNET还允许降低控制比特的数量,并且总测试时间平均降低20.78%,与现有设计相比,在不牺牲测试覆盖的情况下相比,相比,高达47.09%。
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