新的纳米级技术的出现对辐射环境中的可靠电子系统造成了重大挑战。少数种类的辐射等全电离剂量(TID)效应通常导致在这种纳米级电子设备上的永久性损坏,以及当前最先进的技术,以使用昂贵的辐射硬化装置。本文重点介绍了一种新颖且不同的方法:在消费者电子级现场可编程门阵列(FPGA)上使用机器学习算法来解决TID效果并在停止工作之前监控它们替换。这种情况有一个研究挑战,以期待电路板因TID效应而导致总失效。我们观察到γ辐射下FPGA板的内部测量,并使用了三种不同的异常检测机学习(ML)算法来检测伽马辐射环境中的传感器测量中的异常。统计结果表明伽马辐射曝光水平与板测量之间的高度显着关系。此外,我们的异常检测结果表明,具有径向基函数内核的单级支持向量机的平均召回得分为0.95。此外,在电路板停止工作之前,可以检测到所有异常。
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